Product name：硅球间隔物
UniSil®硅球间隔物，具有非常窄的粒径分布，能够控制盒厚，不会对基板造成损坏，清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多，应用广泛。
产品特点
- 微球粒径非常均一，变异系数CV小于3.5%
- 微球单分散性好，无重叠或团聚
- 微球纯度高，无污染
- 微球机械强度高
- 微球具有优异的耐热性、耐寒性以及耐化学品性
UniSil®硅球间隔物的扫描电镜图
UniSil®硅球间隔物粒径非常均一
UniSil®硅球的颗粒大小和分布是用公认的测试仪器（Beckman Coulter Counter Multisizer）和方法来确定的。为了确保结果的准确性，每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数，Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100， 控制在2.5% 以下。 
UniSil®硅球间隔物粒径分布图（微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试）
UniSil®硅球纯度高，无污染
UniSil®硅球离子含量会直接影响到液晶的质量，因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水，产品定期抽样检查。
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Substance |
Control Limit |
Test Method |
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Fe |
≤ 2 ppm |
ICP Spectrometer |
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Ca |
≤ 2 ppm |
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K |
≤ 2 ppm |
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Na |
≤ 2 ppm |
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Cl |
≤ 1 ppm |
Ion Chromatography |
UniSil®硅球间隔物符合RoHS指令
UniSil®硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素，不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属，纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。
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Substance |
Test Result (N.D. = Not Detectable) |
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Cd |
N.D. |
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Pb |
N.D. |
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Hg |
N.D. |
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Cr6+ |
N.D. |
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PBBs |
N.D. |
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PBDEs |
N.D. |
UniSil®硅球间隔物产品目录
纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品：Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 µm到25 µm， 3 µm到9 µm每隔0.1 µm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制，SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。
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硅球间隔物.pdf
Size:2019-09-16 17:36:00
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